テーピング装置、テーピング、テーピング機、テーピングマシン、外観検査装置

ハンドラー、ハンドラ、テストハンドラー、ICハンドラー、ハンドラー装置、ハンドラーマシン、外観検査装置

外観検査装置、外観検査、半導体、IC

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長年の経験と実績に裏打ちされた信頼の製品群 テストハンドラー
外観検査装置
高い安定性のコンタクト及びハンドリングから高いスループットを実現。ファイナルテストを確実に行ないます。
ハンドラー装置 製品一覧
パルメックで取り扱っている主なハンドラー装置の一覧です。下記以外のハンドラー装置をお探しの方は、お気軽に当社までお問合せ下さい。
 
ハンドラー装置 PH-8000 ノンストップ画像アライメントタイプ
RFモジュールやミックスドシグナルIC等の高精度測定を要求される環境に対応したテストハンドラです。
JEDECトレーより供給された半導体等を画像アライメント機能により、端子部とソケットピンの位置ずれ補正後に、特性試験を行います。2個取りによりスループットの向上を図っています。
 

ハンドラー装置PH-900Ｔ パーツフィーダ供給型常高温タイプ
   

株式会社パルメック
〒198-0024
東京都青梅市新町３－７－１８
TEL 0428-32-5178
FAX 0428-32-5568
E-Mail otoiawase@palmec.co.jp
URL http://www.palmec.co.jp
  半導体等をパーツフィーダ及びリニアフィーダにより自動供給し、方向判別部、方向変換部、レーザマーキング部、電気特性測定部へと順次搬送し、良品は設定温度まで加熱し、各種電気的特性を測定後、エンボスキャリアテープにテーピング収納します。
また、不良品はカテゴリーごとにBINに分類されます。		  
                   
  ハンドラー装置 MT-7001 マガジンtoトレー移載機  
半導体等を多連マガジンからトレイへ自動で詰め替えを行う装置です。
段積みされたマガジンを1本ずつ切り出し、45度に傾かせて半導体等をシュートに供給します。シュート先端の半導体等個別分離部で分離された半導体等を真空吸着し、半導体等治具に挿入後、１８０°変角機能により半導体等を指定された方向でトレイに整列します。
   
ハンドラー装置 PS-M03 MEMS加速度センサ評価装置
ソケットボードにセットされた半導体等を高温、常温、低温３つの温度領域にて、例えば任意の角度を再現し、特性検査を行います。
加速度センサ、ジャイロセンサ、磁気センサなどの半導体等を評価するテストハンドラーです。
   
ハンドラー装置 PH-700 外観検査テーピング機能付
半導体等をパーツフィーダ（オプション：リング）で自動供給し、デジタル制御方式のインデックスユニットにより、外観検査、電気特性検査を行った後、エンボスキャリアテープに挿入し、カバーテープシーリング、リール巻取りを自動で行うテーピング機能を備えたテストハンドラーです。
     

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