テーピング装置、外観検査装置、ハンドラー装置のことならパルメックへ | | HOME | SITEMAP | | ||||||||||||||||||||||||||
|
テーピング装置 | ||||||||||||||||||||||||||
ハンドラー装置(恒温槽型) PS-M03 |
|||||||||||||||||||||||||||
ハンドラー装置 | |||||||||||||||||||||||||||
外観検査装置 | |||||||||||||||||||||||||||
HOME > ハンドラー装置 > PS-M03 | |||||||||||||||||||||||||||
PS-M03 MEMS加速度センサ評価装置
ソケットボードにセットされた半導体等を高温、常温、低温3つの温度領域にて、例えば任意の角度を再現し、特性検査を行います。
加速度センサ、ジャイロセンサ、磁気センサなどの半導体等を評価するテストハンドラーです。
特徴
用途
加速度センサ、ジャイロセンサ、磁気センサなどの半導体評価テスト
適用温度
-40℃~+125℃( または+200℃仕様)
オプション
テスタ(仕様については別途ご相談)
製品スペック
写真
|
|||||||||||||||||||||||||||
株式会社パルメック |
|||||||||||||||||||||||||||
HOME | テーピング装置 | ハンドラー装置 | 外観検査装置 | 納品までの流れ | アフターサービス | Q&A | 会社案内 | お問合せ | |
|||||||||||||||||||||||||||
Copyright © 2008. PALMEC CO, LTD. All Rights Reserved. | | プライバシーポリシー | リンクポリシー | |